半导体检测设备行业深度报告:大道至“检”,“测”助功成-20180801-华创证券-43页-4mb
报告摘要
半导体检测设备深度报告总结
核心内容概述
半导体检测是提升产线良率、降低生产成本、增强企业竞争力的关键环节。检测贯穿于IC设计、制造、封测全过程,分为前道量检测和后道检测两大类。前道量检测主要位于晶圆制造环节,用于监控工艺过程、识别晶圆缺陷;后道检测则在封装前后进行,用于验证芯片功能与性能,确保产品合格率。检测设备市场由海外巨头主导,但随着中国大陆晶圆产线建设的推进,国产替代机会逐步显现。
主要观点
- 检测是提升良率的关键:检测设备通过实时监控工艺过程,帮助识别和定位缺陷,提高良率,从而降低成本,增强企业市场竞争力。
- 前道检测设备主要为晶圆制造服务:前道检测包括量测与检测,主要使用光学和电子束技术。KLA-Tencor在该领域占据52%的市场份额,为绝对龙头。
- 后道检测设备涵盖CP与FT测试:CP测试确保封装前芯片合格,FT测试确保封装后芯片性能达标。测试台、探针台和分选机是后道检测的核心设备。
- 市场空间广阔:2018年前道检测设备市场空间达58亿美元,后道检测设备达56.5亿美元,且随着技术发展和市场需求增长,该领域将持续扩大。
- 国内企业正加速国产替代:上海睿励、长川科技、精测电子等企业在前道与后道检测设备领域取得突破,具备国产替代潜力。
前道量检测设备
工艺作用
- 前道量检测贯穿晶圆制造流程,用于监控加工参数,识别表面缺陷。
- 检测流程包括量测和检测,分别用于验证应有参数和识别不应有缺陷。
主要设备
| 设备名称 | 主要功能 | 技术原理 |
|---|---|---|
| 椭偏仪 | 测量透明薄膜厚度 | 基于光的反射与偏振原理 |
| 四探针 | 测量不透明薄膜厚度 | 通过测量方块电阻间接计算厚度 |
| 热波系统 | 测量掺杂浓度 | 利用激光反射率变化分析杂质浓度 |
| 相干探测显微镜 | 测量套准精度 | 基于干涉原理分析晶圆表面结构 |
| 光学显微镜 | 快速定位表面缺陷 | 通过光散射与反射信号识别缺陷 |
| 扫描电子显微镜 | 精准成像,识别微小缺陷 | 电子束成像技术,高分辨率 |
市场情况
- 前道检测设备市场规模2018年预计为58亿美元。
- KLA-Tencor占据52%市场份额,为绝对龙头,技术壁垒高。
- 公司研发投入占比常年保持在15%以上,具备较强的研发能力。
后道检测设备
工艺作用
- 后道检测是芯片生产的“质检员”,包括CP测试(封装前)与FT测试(封装后)。
- CP测试用于筛选合格芯片进入封装环节,FT测试确保产品性能达标并分类。
主要设备
| 设备名称 | 主要功能 | 应用场景 |
|---|---|---|
| 测试台 | 芯片功能与性能检测 | CP与FT测试环节 |
| 探针台 | 晶圆与测试台之间的连接 | CP测试环节 |
| 分选机 | 根据测试结果筛选与分类芯片 | FT测试环节 |
市场情况
- 后道检测设备市场规模预计2018年为56.5亿美元。
- 测试台市场由泰瑞达与爱德万共同占据90%市场份额。
- 探针台由东京精密占据60%市场份额。
- 分选机由爱德万、科休、爱普生共同占据60%以上市场份额。
国内企业进展
上海睿励
- 国内前道量检测设备领军企业。
- 产品已获得三星电子重复订单,并获得长江存储青睐。
长川科技
- 国内后道检测设备领头羊。
- 已在测试台、分选机等领域实现规模化进口替代。
- 探针台产品实现技术突破,有望填补国内空白。
精测电子
- 面板检测设备龙头,积极布局半导体检测领域。
- 在晶圆缺陷检测、封装测试等领域具备一定技术积累。
风险提示
- 半导体行业发展不及预期。
- 国产化替代进度不及预期。
行业数据概览
| 指标 | 数值 | 占比 |
|---|---|---|
| 股票家数 | 319 | 9.03% |
| 总市值(亿元) | 19,027.31 | 3.37% |
| 流通市值(亿元) | 13,537.28 | 3.36% |
市场增长动力
- 新兴行业推动:5G、AI、大数据、云计算等行业的快速发展推动半导体需求增长。
- 工艺进步:制程向10nm、7nm发展,晶圆工艺密度增加,导致检测需求提升。
- 成本压力:随着制程缩小,晶圆加工成本上升,检测成为成本控制的重要手段。
技术发展趋势
- 测试速度提升:测试台向高速、高精度发展,满足更复杂的芯片测试需求。
- 测试方式多样化:包括并行测试、非接触式测试等,提高测试效率与灵活性。
- 设备国产化:随着晶圆产线建设,国内企业正加快技术突破,实现进口替代。
推荐标的
- 长川科技:后道检测设备领军企业,实现规模化进口替代。
- 精测电子:面板检测设备龙头,进军半导体检测领域。
- 上海睿励:前道量检测设备龙头,产品进入三星、长江存储产线。
图表目录(部分)
- 图表1:检测工艺流程图
- 图表2:前、后道检测工艺简介
- 图表3:检测工艺控制良率流程图
- 图表4:前道量检测分类及主要技术
- 图表5:前道量检测特点对比
- 图表6:前道量检测工艺全景图
- 图表7:无图形晶圆与有图形晶圆示意图
- 图表8:前道量检测标的、设备及原理
- 图表9:椭偏仪实物图
- 图表10:四探针设备实物图
- 图表11:热波系统实物图
- 图表12:相干探测显微镜实物图
- 图表13:光学显微镜实物图
- 图表14:扫描电子显微镜实物图
- 图表15:半导体前道量检测设备销售额
- 图表16:前道量检测设备厂商市场份额汇总
- 图表17:KLA-Tencor部分展品实物图
- 图表18:KLA-Tencor营业收入
- 图表19:KLA-Tencor盈利能力
- 图表20:KLA-Tencor设备收入
- 图表21:KLA-Tencor服务收入
- 图表22:KLA-Tencor研发费用支出
- 图表23:KLA-Tencor全球布局网络图
- 图表24:全球半导体销售额
- 图表25:全球半导体产品和设备销售额
- 图表26:晶圆工艺密度随制程缩小增加
- 图表27:晶圆片加工成本随制程缩小提升
- 图表28:CP测试晶圆喷墨示意图
- 图表29:后道检测工艺流程图
- 图表30:后道检测设备全景图
- 图表31:测试台发展历史
- 图表32:国内外先进厂商探针台对比
- 图表33:重力式、转塔式、平移式分选机性能比较
- 图表34:国内外先进厂商分选机性能比较
- 图表35:2017年全球半导体产品销售占比
- 图表36:SoC与存储器测试台销售额
- 图表37:SoC测试台实物图
- 图表38:存储器测试台实物图
- 图表39:后道测试设备市场规模
- 图表40:测试台市场规模
- 图表41:泰瑞达部分主要产品实物图
- 图表42:泰瑞达SoC测试设备市场营收
- 图表43:后道检测设备龙头企业营收
- 图表44:泰瑞达分项营业收入
- 图表45:泰瑞达盈利能力
- 图表46:泰瑞达全球各地区营收占比
- 图表47:泰瑞达研发费用支出
- 图表48:爱德万部分主要产品实物图
- 图表49:爱德万营业收入
- 图表50:爱德万盈利能力
- 图表51:爱德万全球各地区营收占比
- 图表52:爱德万研发费用支出
- 图表53:爱德万存储器测试台发展史
- 图表54:T2000开放式架构测试设备原理图
- 图表55:Advantest测试设备市占率
- 图表56:V93000系列产品示意图
- 图表57:东京精密部分主要产品实物图
- 图表58:东京精密营业收入
- 图表59:东京精密盈利能力
- 图表60:东京精密细分产品占比
- 图表61:东京精密研发费用支出
- 图表62:国内在建/规划中的12寸晶圆厂
- 图表63:长川科技营业收入
- 图表64:长川科技细分业务营收
- 图表65:长川科技盈利能力
- 图表66:长川科技研发费用支出
- 图表67:睿励测试设备研发关键时点
- 图表68:精测电子营业收入
- 图表69:精测电子盈利能力
- 图表70:精测电子细分业务营收
- 图表71:精测电子研发支出
证券分析师信息
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