三维光学条纹投影扫描赋能——电子行业结构件的质量控制_8页_17mb
报告摘要
ZEISS三维光学条纹投影扫描技术总结
背景
电子行业依赖高质量电子硬件支撑,产品质量要求日益严苛,尤其是在设计、制造和测试环节。行业技术迭代快,产品频繁更新,突出批量检验、质量控制的重要性。
ZEISS解决方案
ZEISS提供的基于三维光学条纹投影扫描技术的解决方案,能够实现快速、精确、全面的检测。通过全場几何形状采集,技术适用于电子结构件的整个工艺流程,从原型到生产,确保数据反馈和优化。
主要应用
- 材料特性测试:通过测试确定材料性能(如杨氏模量、流动曲线),支持CAD设计和材料选择。
- 零部件设计与模拟:基于CAD/PMI数据,实现三维测量规划,反馈几何形状以优化设计。
- 模具与电极加工:缩短多型腔模具优化周期,减少修正错误,支持虚拟装配和动态分析。
- 生产与装配:涵盖首件检验、批量检测和负荷测试,支持自动化检测和统计分析,确保零部件符合GD&T标准。
- 装配及变形监测:用于部件装配校准、间隙分析和产品生命周期测试(如耐久性、碰撞测试),实现实时变形跟踪。
技术优势
- 缩短产品开发和生产周期,提高效率。
- 支持精确测量和自动化,减少人为错误,确保持续质量控制。
- 多种设备型号(如GOM Scan 1、ATOS Q、ScanCobot)适应不同场景,提供高精度点云数据采集,兼容多种软件和CAD格式。
- 功能包括全局几何比对、载荷测试模拟、趋势分析,提升可靠性。
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